• 精微高博喜获CISILE 2012“自主创新金奖”
  • 浏览次数:0  时间:2014-12-09
  •      2012年5月15-17日,作为中国比表面及孔径分析仪的开创者和领航者,北京精微高博科学技术有限公司参加了中国仪器仪表行业协会主办的级别最高、规模最大的盛会——第十届中国国际科学仪器及实验室装备展览会(CISILE 2012)。参加此次展会的还有岛津、赛默飞世尔等全球知名企业。这次展会汇聚了行业精品,主要有国内外材料力学性能实验设备、分析测试仪器、光学仪器、生化技术、质量控制等领域的先进技术及产品,全面展示了当今世界科学仪器产业界最新产品与尖端技术。

        参展期间,很多观众对JW-BK比表面及孔径分析仪有浓厚兴趣,不断询问仪器的技术参数、性能特点以及操作方法,加深了客户对我公司产品的了解,也提升了我公司在国内的形象,起到了一定宣传作用。此次参展活动,精微高博展出了表界面物性界最精良、最前沿的科技新品——JW比表面分析测试仪,最吸引观众眼球的是精微自主研发的JW-BF-270型比表面及孔径分析仪,具有两个独立分析站,能同时分别测试微孔介孔,重复性好,测试精度已赶超国际先进水平。

        最值得一提的是,JW-BK122F型比表面及孔径分析仪喜获“自主创新金奖”,充分体现了国产比表面分析仪的自主创新能力和水平又迈上了一个新台阶。北京精微高博正是凭借自主创新能力取得了市场竞争力和国际影响力,会一如既往的坚持自主创新,提升研发水平,继续为中国物性分析测试仪器事业的发展贡献自身力量。

  • 相关阅读
  • 0.0001(m2/g)--至无上限(比表面积)
    2nm-500nm(介孔及大孔分析)
    0.35nm-2nm( 微孔常规分析)
    孔体积0.0001cm3/g-至无上限

     

     

    400-600-5039
  • 电话 400-600-5039 专家团队7*24小时为您服务
  • 电子邮件 sales@jwgb.net 技术支持/销售团队/索要报价
  • 在线咨询 工作日:早9点-晚9点 技术支持/销售团队/索要报价