JW-TB系列

比表面积及孔径分析仪

孔径范围:0.35nm-500nm

比表面范围:0.0005m²/g-无上限

中值孔径重复性（标准偏差）:≤0.02nm

比表面重复性（RSD）:±1%

AMI-QUICK系列

高效型比表面积及孔径分析仪

孔径范围:0.35nm-500nm

比表面范围:0.0001m²/g-无上限

中值孔径重复性（SD）:≤0.02nm

比表面重复性（RSD）:±1%

TGA 系列

热重分析仪

温度范围:RT-1000°C

升温速率:0.1-300°C/min

称量范围:400 mg

天平分辨率:0.1 μg