动态4站 DX400 型
动态 DX 型
动态 DA 型
静态单站 BK112 型
静态双站 BK222 型
多站同步 TB 系列
静态四站 BK400 型
基础型 BK112 型
基础型 BK222 型
高性能单站 BK100A 型
高性能单站 BK200A 型
高性能单站 BK300A 型
AMI-Quick系列
高性能单站 BK100C 型
高性能单站 BK200C 型
高性能单站 BK300C 型
AMI-TOP系列
JW-HX100 型
AMI-400C 型
高性能 AMI-300 型
基础型 AMI-300 Lite 型
原位红外 AMI-300 IR 型
耐腐蚀 AMI-300 S 型
高压 AMI-300 HP 型
基础型 AMI-300 Neo 型
μBenchCAT微反评价装置系列
8站集成微反评价装置系统
吸附穿透实验装置专业化非标定制
变温/变压吸附解吸实验装置专业化非标定制
基础型单站 ZQ100 型
高性能双站 ZQ200 型
Mix100 穿透曲线与传质分析仪
MixSorb
M100
YG-23A
Rubolab MSB 重量法高压吸附仪
Rubolab MPA 容量法高压吸附仪
3P-garviSorb 水吸附分析仪
JW-TQJ4静态真空脱气机
Master 400 质谱仪
Dsc 600 型 差示扫描量热仪
TGA 系列 热重分析仪
STA 系列 同步热分析仪
TMA 800 型 热机械分析仪
SY-1095全自动循环水浴
cryoTune可调低温冷浴
encyclopedia
MP法,是利用对应于微孔吸附区间,吸附量与厚度对应的实验点,用每一点的变化率(dV/dt)计算出对应于一定尺寸孔的内表面积,然后通过孔径、内表面、孔容积三者的对应关系,求出孔体积分布。这是在介孔测试数据的基础上,利用t图,向微孔分析方向的延伸,这种方法对微孔的分析范围很窄(最小到0.8nm),而且完全沿用介孔分析的基本假设,比如沿用Kilven方程确定2nm以下孔的尺寸,都是很不严格的。
TPD
TPR
TPO
脉冲化学吸附
脉冲校准
孔径范围:0.35nm-500nm
比表面范围:0.0001m2/g-无上限
中值孔径重复性(SD):≤0.02nm
比表面重复性(RSD):±1%
Pulse
Chemi