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产品预览
测试效率
1小时48个样
比表面范围
0.01m2/g-无上限
比表面积重复性
≤1%
比表面积准确性
≤1%
比表面积分析仪
动态四站 DX400 型
动态四站 DX/DA 型
静态单站 BK112 型
静态双站 BK222 型
静态四站 BK400 型
介孔孔径分析仪
多站同步 TB 系列
基础型 BK112/222 型
高性能单站 BK100A 型
高性能单站 BK200A 型
高性能单站 BK300A 型
AMI-Quick系列
微孔孔径分析仪
高性能单站 BK100C 型
高性能单站 BK200C 型
高性能单站 BK300C 型
AMI-TOP系列
化学吸附仪
高性能 AMI-300 型
基础型 AMI-300 Lite 型
原位红外 AMI-300 IR 型
耐腐蚀 AMI-300 S 型
高压 AMI-300 HP 型
基础型 AMI-300 Neo 型
蒸汽吸附仪
基础型单站 ZQ100 型
高性能双站 ZQ200 型
竞争性吸附仪
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真密度仪
M100
压汞仪
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比表面积分析仪
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比表面积
分析仪
选项方案
应用案例
导热粉体行业
垃圾发电行业
纳米药物领域
此类仪器适于只关注小于200m2/g比表面积测试,不关注孔径分析的客户使用,尤其适用于粉体生产厂家的质量控制,其特点是快速,最快平均5分钟测试一个样品。同时,性价比优势突出。
四站比表面及孔径分析仪
JW-BK400系列
比表面积及孔径分布,是表征微纳米粉体材料表面物性及孔结构的重要参数之一,常用、可靠的方法是静态容量法气体吸附。JW-BK400系列高通量全自动比表面及孔径分析仪即能准确可靠解决粉体材料比表面积及孔径分析问题,该产品配置4个独立并列分析站,测试效率超高,可有效解决纳米粉体材料的比表面介孔大孔高通量分析问题,满足中大型企业多样品、高效率测试需求。
产品详情
比表面及孔径分析仪
JW-BK基础型
比表面积及孔径分布,是表征微纳米粉体材料表面物性及孔结构的重要参数之一,常用、可靠的方法是静态容量法气体吸附。JW-BK基础型系列全自动比表面及孔径分析仪即能准确可靠解决粉体材料比表面积及孔径分析问题,根据测试功能不同可区分为JW-BK112、JW-BK122W、JW-BK222三种型号,其中,JW-BK122W型因配置有小量程10torr压力传感器,配合二级吸附泵技术,可有效分析0.7nm以上微孔材料的孔径分布需求。 低温条件下(液氮或液氩等),在密闭的真空系统中,改变吸附质气体压力,通过高精密压力传感器测量出样品吸附气体分子前后的压力变化值,进而计算出气体吸附量,描绘出等温吸脱附曲线,应用各种物理分析模型进行比表面积及孔隙度分析
产品详情
动态氮吸附比表面测定仪
JW-D系列
比表面积是表征微纳米粉体材料表面物性重要指标之一,常用的测定方法是氮吸附法。动态氮吸附法测定比表面积广泛应用于工业中生产线上产品的快速检测。精微高博公司发明专利仪器JW-DX型动态吸附比表面测定仪,测试准确、高效,非常适合三元材料、石墨等电池正负极材料、医药辅料等小比表面样品的测试。
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比表面积分析仪
DX 400
比表面积是表征微纳米粉体材料表面物性重要指标之一,常用的测定方法是氮吸附法。动态氮吸附法测定比表面积广泛应用于工业中生产线上产品的快速检测。精微高博公司发明专利仪器DX400比表面积分析仪,测试准确、高效,一小时测试48个标准样品。非常适合三元材料、石墨等电池正负极材料、医药辅料等小比表面样品的测试。 在-196度低温液氮环境下,通入一定流量比例的氮氦混合气体,采用高精度热导池根据样品吸附氮分子前后的气体浓度变化,得到吸附峰或脱附峰,峰面积正比于氮气吸附量,应用直接对比法或BET理论计算出样品的比表面积大小。
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参数配置
分析站
原位脱气
孔径测试范围
比表面积
介孔分布
BK112
2
500nm
BK222
2
500nm
BK400
2
500nm